イノベーション推進機構 産学連携・URA領域

九州工業大学の研究者 -私たちはこんな研究をしています-

情報工学研究院

教授

温  暁青

おん ぎょうせい

所属
情報工学研究院
情報・通信工学研究系
プロフィール
1964
生まれ
1993
博士(工学)
大阪大学
1993
大阪大学大学院
工学研究科博士後期課程応用物理学専攻修了
1990
広島大学大学院
工学研究科博士課程(前期)
情報工学専攻修了
受賞
▶平成20年度電子情報通信学会情報・システムソサイエティ論文賞、電子情報通信学会情報・システムソサイエティ、日本(2009)
▶Best Paper Award、Seventh IEEE Workshop on RTL and High Level Testing(2007.10)
▶IEEE Fellow (2012.1)

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半導体集積回路の高精度故障診断に関する研究

● 研究テーマ

  • 低消費電力LSI回路のための低消費電力テスト生成技術
  • 超微細化LSI回路のための高精度故障診断技術ト
  • LSI回路のテスト容易化設計技術

● 分野

LSIテスト、テスト容易化設計、及び故障診断

● キーワード

テスト(Test)、テスト生成(Test Generation)、テスト容易化設計(Testable Design)、故障診断(Fault Diagnosis)

● 実施中の研究概要

半導体集積回路(LSI)の高信頼化を実現するために、テスト用入力データを高品質化する技術、テストを容易にする回路設計技術、及び、回路内の不良箇所を特定する故障診断技術の研究を行っています。特に、低消費電力LSIに必要不可欠な低消費電力テスト生成の研究分野において、過度なテスト電力に起因する電源ノイズによる誤テストを回避するためのLCP(Low Capture Power)テスト生成技術の基礎を世界に先駆けて確立するなど、低消費電力テスト技術のパイオニアとして多くの独創的かつ実用的な成果を上げています。

● 特徴ある実験機器、設備

高性能ワークステーション群
LSIテストパターン生成用ソフト
LSI電力解析用ソフト

● 知的財産権(技術シーズ)

米国登録特許: 31件
(詳細はhttp://patft.uspto.gov/netahtml/PTO/search-bool.html
で “Investor Name” = “Xiaoqing Wen” として検索できる)
米国出願特許: 36件
(詳細はhttp://appft1.uspto.gov/netahtml/PTO/search-bool.html
で “Investor Name” = “Xiaoqing Wen”として検索できる)
日本登録特許: 3件
(詳細はhttps://www.ultra-patent.jp/Search/Search+.aspx (登録特許)
で “発明者” = “温暁青” として検索できる)
日本出願特許: 13件
(詳細はhttps://www.ultra-patent.jp/Search/Search+.aspx (公開特許)
で “発明者” = “温暁青” として検索できる)

● 過去の共同研究、受託研究、産業界への技術移転などの実績

▶VLSIの電流テスト容易化設計と電流波形による故障検出に関する研究、日本学術振興会、H7年度科研費補助金奨励研究(A) (H7)、代表 
▶ VLSI用自動故障診断システムに関する研究開発事業、飯塚市、H16年度飯塚市研究テーマ探索事業補助金(H16)、代表
▶ システムオンチップに対するテスト・診断の効率化技法に関する研究、日本学術振興会、アメリカ合衆国, オーストラリア及び欧州諸▶国との共同研究 (H16-H17)、分担
▶次世代LSIテスト設計自動化システムの研究開発、日本科学技術振興機構、 H16年度研究成果活用プラザ福岡育成研究課題 (H16-H17)、代表
▶LSI歩留まり向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究、日本科学技術振興機構、 H17年度科研費補助金基盤研究(C)(一般) (H17-H18)、代表
▶マルチフォールトモデルを対象としたLSIのテストに関する研究、日本科学技術振興機構、 H16年度科学研究費補助金基盤研究(C)(一般) (H16-H18)、分担
▶自己検査・自己診断によるLSI高信頼化方式に関する研究、日本学術振興会、H18年度二国間共同研究(アメリカ) (H18-H19)、代表
▶半導体集積回路の低消費電力テスト技術の研究開発、(財)九州産業技術センター、H18年度産学連携戦略・次世代産業創出事業(研究開発委託事業) (H18)、代表
▶次世代LSI回路のための信号劣化回避型テスト方式に関する研究、日本学術振興会、H19年度科研費補助金基盤研究(C)(一般) (H19-H21)、代表
▶テスト時電力・ノイズ考慮テストの研究、(㈱ 半導体理工学研究センター、H19年度民間等との共同研究 (H19)、代表
▶高精度電力・ノイズ考慮テスト生成技術の研究、(㈱ 半導体理工学研究センター、H20年度民間等との共同研究 (H20)、分担
▶半導体集積回路の高信頼化に貢献する先端テスト技術の研究開発、経済産業省、H19年度地域新生コンソーシアム研究開発事業 (H19)、代表
▶マルチフォールトモデルを対象としたLSIのテストに関する研究、日本科学技術振興機構、H19年度特定課題調査 (H19)、分担
▶半導体集積回路の高歩留り化プラットフォームの研究開発、文部科学省、知的クラスタⅡ福岡先端システムLSI開発拠点構想 (H19-H21)、代表
▶フィールド高信頼化のための回路・システム機構、日本科学技術振興機構、戦略的創造研究推進事業CREST (H20-H26)、分担
▶VLSIの高品質フィールドテストに関する研究、日本科学技術振興機構、H21年度科学研究費補助金基盤研究(B)(一般) (H21-H24)、分担
▶最先端半導体(cell/B.E..)を活用した超高速演算処理に関する実証試験、(財) 福岡県産業・科学技術振興財団、受託研究 (H21)、代表
▶次世代,低消費電力LSI回路のための電力調整型テスト方式に関する研究、日本学術振興会、H22年度科学研究費補助金基盤研究(B)(一般) (H22-H24)、代表
▶半導体集積回路の高歩留り化プラットフォームの研究開発、文部科学省、地域イノベーションクラスタープログラム・グローバル型(第Ⅱ期) (H22-H24)、代表

● 研究室ホームページ