准教授
みやせ こうへい
学部4年生での卒業研究で、LSIテストを中心に研究を行っている研究室に配属されたのがきっかけで、現在の研究を始めることになりました。研究室配属後に、LSIテストに関する研究は、米国を中心として、海外での活躍の場が多いと分かりました。以前より国際的に活躍したいと考えておりましたので、将来もLSIテストの研究に関係した仕事に就きたく思い、現在に至ります。
テストパターンに起因するLSIテストの諸問題解決手法
計算機システム・ネットワーク
LSI設計、LSIテスト、テスト設計、DFT、テストパターン生成
微細化技術の向上により、LSIの集積度と性能は飛躍的に向上しました。その一方で、LSIの製造コスト増加、歩留り低下、信頼性低下への対応が必要不可欠となっています。本研究では、LSIテストで使用されるテストパターンが製造コスト、歩留り、信頼性に強く関係していることに着目し、製造コスト削減、歩留り向上、信頼性向上に関する問題を解決できるテストパターン生成手法について研究しています。本研究の成果は、歩留りを向上させ、信頼性を向上させる医療用機器などのLSIの高信頼化に貢献します。どのような問題を解決するテストパターンを生成するかは、ユーザーが指定できるため、応用分野は幅広いと考えています。
① LSIのテストパターンを変換することで、LSIテストの様々な問題を 解決する
② 実用的なプログラム実装を心がけること（大規模回路、実用回路設 計への対応）。
③ 生き生きと研究を行い、研究成果を上手にアピールすること。
④ 研究職に就きたいという学生を増やすこと。
LSIテストに使用するテストベクトル変換システム（ソフトウェア）
9件の特許出願に関わっていますが、すべて大学院 情報工学研究院 情報創成専攻の温教授のプロジェクトに関わるもので、私の判断で技術移転、共同研究のシーズにできるものはありません。
【研究】
『高精度電力・ノイズ考慮テスト生成技術の研究』
【共同研究企業】
株式会社 半導体理工学研究センター
本共同研究の成果は、共同研究企業である株式会社 半導体理工学研究センターに技術移転しており、現在、上記企業にて、製品化に向けた活動を続けています。
図１.従来の提案手法の課題と利点
