教授
かじはら せいじ
世界の研究動向を把握することと、産業界などとの意見交換を頻繁に行うこと。この2点かと思います。
品質とコストを両立したVLSIの高信頼化技術
計算機システム
システムLSI、ディペンダビリティ、VLSIの設計とテスト
VLSIの製造プロセスの微細化とともに、製造時の出荷テストだけでなく、運用時の故障発生への対応が重要な課題になっています。VLSIの組み込まれた製品をユーザが安心して利用するには、フィールドでの信頼性保証が強く求められます。私たちの研究は、フィールドでシステム動作しているVLSIの劣化や故障を検出し、誤動作による障害が発生する前に診断や警告可能とする新しい回路・システム機構を提案するものです。システム運用時のVLSIの突発的な故障の発生を未然に防ぐことができれば、ユーザにとってディペンダブルで安全・安心なシステムを構築できるものと考えています。
具体的には、
①システム起動時等などのシステムアイドル時間を利用したVLSIの故障検出と回路の劣化検知技術
②障害となる前に警告/診断を行い、被害を阻止する技術
③上記を実現するための、外部からのLSIテスタを用いずにシステム動作環境を反映して行われる高精度な自己テスト、自己診断、自己修復技術の研究開発を行います。
VLSIの大規模化とプロセスの微細化に伴って生じる諸課題を解決することによる、安全・安心なシステムの実現への貢献
論理回路のテストに関する特許が、10数件あります。
民間企業との共同研究の成果を実用化に結びつけた実績が、複数あります。
❖研究室ホームページ
http://aries3a.cse.kyutech.ac.jp/
❖詳しい研究者情報
https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/201_ja.html