次世代AI技術と半導体・電子部品検査装置との融合による付加価値の創出

● 研究テーマ

❖AI技術を用いた半導体・電子部品検査装置の高速化
❖AI技術を用いた半導体・電子部品検査装置の高精度化
❖AI技術を用いた半導体・電子部品検査装置の高品質化

● 研究分野

ソフトコンピューティング

● キーワード

高速・高精度・高品質

● 関連リンク先

❖ より詳しい研究者情報

https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/100001543_ja.html