産学連携センターNEWS(vol. 489)
2013.11.01
vol. 489
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■／／／■／■／／■／／／／■／ ■vol. 489 2013.10.31【臨時号】
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編集・発行／
（公財）北九州産業学術推進機構〔通称：FAIS〕産学連携統括センター
【担当】武冨・一田
URL：http://www.ksrp.or.jp/?mail=20131031
E-mail:http://fais.ksrp.or.jp/MF3/?id=sangaku
※本信は、北九州学術研究都市における産学連携に関する情報を中心に
当財団主催のイベントに参加された方々やスタッフが名刺交換させて
いただいた皆さまを対象にお届けしております。
※配信停止・配信先変更をご希望の方は、お手数ですが
こちらのメールフォーム ⇒ http://fais.ksrp.or.jp/MF3/?id=sangaku
の「通信文」覧に、その旨ご記入いただき、送信をお願いいたします。
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◆◆目次◆◆
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【０１】第125回産学交流サロン「ひびきのサロン」＜11月10日（日）＞
～女子高校生・女子大学生のための理系女子キャリアアップシンポジウム～
「地域で育もう、輝く女性研究者・女性技術者たち」
【０２】ひびきの半導体アカデミー講座『半導体の故障解析』のご案内
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【０１】第125回産学交流サロン「ひびきのサロン」
＜11月10日（日）＞～女子高校生・女子大学生のための
理系女子キャリアアップシンポジウム～
「地域で育もう、輝く女性研究者・女性技術者たち」
北九州市立大学国際環境工学部の女子率は約23％と全国的に高い割合ですが、
研究者・技術者になるべく大学院に進む女子学生は、まだまだ多くありません。
理系女子が高度な女性研究者・女性技術者として輝けば、地域社会も元気にな
ります。
就職は？子育てとの両立は？悩める理系女子を、女性研究者、企業の立場から
応援します。
■テーマ：「地域で育もう、輝く女性研究者・女性技術者たち」
■日 時：平成２５年１１月１０日（日）１０：００～１２：３０
■場 所：北九州学術研究都市 学術情報センター 遠隔講義室１
（北九州市若松区ひびきの１番３号）
■主 催：北九州市立大学 地域産業支援センター
公益財団法人北九州産業学術推進機構〔ＦＡＩＳ〕
■内 容：
・１０：００～１０：０５ 開会の挨拶
・１０：０５～１０：４５ 講演①『女性研究者として、輝くために・・・』
講師：日本女子大学 理学部 数物理学科
准教授 小川 賀代 氏
・１０：４５～１１：１５ 講演②『企業で活躍する、女性研究者・女性技術者』
講師：ＴＯＴＯ株式会社 人財開発本部 人財サポート部
ダイバーシティ推進グループリーダー 田辺 純子 氏
・１１：１５～１１：２５ 休憩
・１１：２５～１２：２５ 『輝く理系女子、パネルディスカッション』
パネリスト： 小川 賀代氏（日本女子大学理学部 准教授）
田辺 純子氏（ＴＯＴＯ株式会社
ダイバーシティ推進グループリーダー）
黎 暁紅氏（北九州市立大学国際環境工学部 教授）
城戸 將江氏（北九州市立大学国際環境工学部 准教授）
企業女性技術者他
・１２：２５～１２：３０ 閉会の言葉
■内容詳細はこちら↓
http://www.ksrp.or.jp/fais/iac/news/archives/2013/001401_1007_201437.html
■お申し込みはこちら ↓
https://www.ksrp.or.jp/fais/iac/project/salon/index.php?form=72
【お問い合わせ】
公益財団法人 北九州産業学術推進機構
産学連携部 連携企画担当課 武冨・一田
tel 093-695-3006(内線1065) fax 093-695-3018
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【０２】ひびきの半導体アカデミー講座『半導体の故障解析』
のご案内
※ひびきの半導体アカデミーは２００６年度より電気学会九州支部
協賛で開催しております。
○開催講座：『半導体の故障解析』
○講 師：東芝ナノアナリシス株式会社 津々見 宏明 氏
○開催日時：平成25年12月5日（木）13：00～17：00
○会 場：北九州学術研究都市 産学連携センター／２Ｆ研修室
○講座概要
故障は製造過程に発生するもの、評価試験中に発見されるもの、
市場において時間・環境に依存して発生するもの等があります。
故障解析は、単に原因やメカニズムを究明するだけでなく、フィード
バックを図り、的確な対策を施して、不良の再発を防止するために
重要な技術分野です。
故障解析で原因やメカニズムを正しく解明するためには、綿密な
解析手順に従って、数々の装置、手法を駆使して解析を行わなければ
なりません。
今回の講座では、故障解析の意義と故障解析の手順、主な故障モードと
メカニズム､故障解析に用いられる装置､解析事例をご紹介します。
また、走査型電子顕微鏡(ＳＥＭ)やＸ線透視装置を用いた解析実演を行います。
○講座内容】
１．はじめに
半導体の信頼性 － 品質を保証するということ
－ 半導体の故障率
２．故障解析とは － 故障解析の意義
３．故障解析の手順と用いられる装置
４．主な故障モードとメカニズム
４－１ 酸化膜経時破壊（ＴＤＤＢ）
４－２ エレクトロマイグレーション
４－３ ストレスマイグレーション
４－４ アルミ腐食
４－５ パッケージクラック
５．故障解析・分析技術と解析事例
５－１ 故障個所特定技術
５－２ 観察技術
５－３ 表面分析技術
５－４ 材料分析技術
５－５ さいごに
６．ＳＥＭ、Ｘ線透視装置の解析実演（６０分）
○対象者
・半導体を使うアプリケーションに関わる技術者の方
・半導体・エレクトロニクス品質に関係のある技術者の方
・半導体・エレクトロニクス関連企業に就職を希望する学生の方
○募集定員
２０名
○受講料・テキスト代
・受講料 一般：4,000円 ／ 学生：1,000円
・テキスト代 1,000円（一般、学生共通）
○お申込方法
半導体技術センターホームページよりお申込みください。
http://www.ksrp.or.jp/fais/sec/reserve/academy/detail.php?form=46
※募集期間：平成25年10月10日(木)～平成25年11月29日(金)※
○詳しくはこちらのホームページより
http://www.ksrp.or.jp/fais/sec/index.html
【お問い合わせ】
公益財団法人北九州産業学術推進機構【ＦＡＩＳ】
半導体技術センター 担当：上野、塚本
E-mail http://www.ksrp.or.jp/fais/sec/mailto.html
tel 093-695-3007
